近期，深圳赓旭采用自有数学逻辑模型与图形图像比对技术，研发成功的印 制电路板AOI自动光学检测仪滤光片，打破了以色列奥宝科技和日本网屏在此领域的垄断 ，使我国在自动化光视觉检测领域步入30微米时代。今后我国印制电路板生产企 业再也不必耗费昂贵的人工成本进行人工目视中期检测，也不用为产品品质合格 率担心，更不用牵挂国外光学检测设备高昂的费用，其价格与国外同类型产品相 比下降了50%。
　　
　　作为整个系统的核心，如何准确判定缺陷点软件及其核心的数学算法是最大 的难题，传统的缺陷检测软件是采用点阵图像对比技术(P2P)，检测需要很高的原 始图像清晰度，即光学图像采集设备的清晰度决定设备整体性能，直接造成应用 该类技术的设备成本高企和性能不佳，并且无法满足现实生产技术跨越式发展的 要求。为此欧威科技提出了由六大新算法即亚像素轮廓提取、CAM资料轮廓提取、 精确对位算法、区域剪裁和变形、边缘配准、缺陷分类和过滤的亚像素轮廓比对 概念，并成功应用于新型设备之中。亚像素轮廓比对技术能够优化原始图像提取 质量，准确判断图形图像边缘轮廓，简化最小逻辑判定单元像素需求，将原始50 μm的采集图像清晰度，优化到30微米的超细级别。
系统还设计开发了集成高速线阵相机，线型编码器反馈装置，超高速频闪光源，分离式变倍镜头PCB板的扫描成像装置；负压定位快速装卸工作平台；专用的 精确定位运动控制卡等一系列最新技术研究成果。在软件的架构上操作上尽量使 得其操作简单化，容易上手，避免了繁琐的操作和参数调试工作。